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单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3

单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3

简要描述:单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3
*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于 测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;
*.测试单晶电阻率范围: >0.3Ω.cm;
*.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS;......

产品型号:

所属分类:硅单晶寿命测试仪

更新时间:2017-01-18

厂商性质:生产厂家

详情介绍

单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3 特点:

*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于   测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;

*.测试单晶电阻率范围: >0.3Ω.cm;

*.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS;

*.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;

  余辉<1 μS;闪光频率为:20-30次/秒;

*.前置放大器:放大倍数约25;

*.测量方式:采用对标准曲线读数方式;



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